压接型IGBT器件封装可靠性建模与测评
中教图书- 出版日期:2023/3/1
- 版次:01
- 开本:b5
- 页码:188
- 出版社:科学
- 作者:李辉等
- 中图法分类:tn386.2
- isbn:9787030712745
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详细参数 - 出版日期2023/3/1
- 版次01
- 开本b5
- 页码188
- 出版社科学
- 作者李辉等
- 中图法分类tn386.2
- isbn9787030712745