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图解入门半导体器件缺陷与失效分析技术精讲
文轩网价格：58.40元
商品属性：
- 出版日期：2024-02-01
- 语种：中文
- 版次：第1版
- 开本：16开
- 印刷时间：2024-02-01
- 字数：196000
- 出版社：机械工业
- 装帧：平装
- 印次：1
- 作者：日本可靠性技术丛书编辑委员会编李哲洋等译
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详细参数
- 出版日期2024-02-01
- 语种中文
- 版次第1版
- 开本16开
- 印刷时间2024-02-01
- 字数196000
- 出版社机械工业
- 装帧平装
- 印次1
- 作者日本可靠性技术丛书编辑委员会编李哲洋等译
- 页数168
- isbn9787111749622
- 分类图书行业职业工业技术电子/电工