集成电路芯片测试技术
文轩网- 出版日期:2021-03-01
- 语种:中文
- 版次:第1版
- 开本:16开
- 印刷时间:2021-03-01
- 字数:304000
- 出版社:西安电子科技大学
- 装帧:平装
- 印次:1
- 作者:居水荣|戈益坚
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详细参数 - 出版日期2021-03-01
- 语种中文
- 版次第1版
- 开本16开
- 印刷时间2021-03-01
- 字数304000
- 出版社西安电子科技大学
- 装帧平装
- 印次1
- 作者居水荣|戈益坚
- 页数208
- isbn9787560659541
- 分类图书行业职业工业技术电子/电工