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芯片高温老化寿命试验(HTOL)，芯片可靠性验证
中国工业品网价格：1.00元
商品属性：
- 测试条件：for devices containing nvm/endurance preconditioning must be
- grade0：+150℃ta for 1000 hours
- 更新：2021-06-09
- grade3：+85℃ta for 1000 hours
- grade1：+125℃ta for 1000 hours
- grade2：+105℃ta for 1000 hours
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历史最低价1.00元（2026-03-12）
历史最高价1.00元（2026-03-12）
详细参数
- 测试条件for devices containing nvm/endurance preconditioning must be
- grade0+150℃ta for 1000 hours
- 更新2021-06-09
- grade3+85℃ta for 1000 hours
- grade1+125℃ta for 1000 hours
- grade2+105℃ta for 1000 hours